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關於過程校驗儀的困惑解答

更新時間:2016-05-04      瀏覽次數:1401

關(guan) 於(yu) 過程校驗儀(yi) 的困惑解答 

 

   過程信號校驗儀(yi) 校驗儀(yi) 模擬電阻功能的原理是外部二次表輸出一個(ge) 激勵電流,然後利用該激勵電流產(chan) 生成比例的激勵電壓,再以該激勵電壓為(wei) 基準,通過PWM方式調製輸出的電壓值。多功能校準器這樣二次表根據返回的電壓值除以自己輸出的電流值,得到電阻值。但在實際過程中需考慮這麽(me) 一個(ge) 問題,高精度的元器件通常負載能力比較小,zui大2mA左右,能承受較大負載的元器件普遍是功率型器件,其自身的溫度係數、長期漂移特性遠差於(yu) 精密級的元件。因此,這是一個(ge) 很矛盾的問題,過程信號校驗儀(yi) 圓圖記錄儀(yi) 還有一些平衡式記錄儀(yi) 普遍激勵電流在4~6mA之間。對校驗儀(yi) 的模擬電阻功能來說負載太重了。另外,就是非線性問題,送檢時用數字表測的值其實並沒有太大意義(yi) ,隻能證明這個(ge) 功能沒壞。因為(wei) 現場的二次表激勵電流從(cong) 0.1mA~6mA都有,1mA激勵準,並不能代表其它激勵的情況下也準,這也就是為(wei) 什麽(me) 用校驗儀(yi) 和電阻箱檢同一塊二次表,有時示值會(hui) 相差很大的原因。

過程信號校驗AOIP50 ,美國GE等

 

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