工業鉑熱電阻溫度計分度新方法提出

為(wei) 提高工業(ye) 鉑熱電阻測溫準確性和穩定性，中國計量科學研究院近日提出了一種新的分度工業(ye) 鉑熱電阻方法——溫標分度法，並通過專(zhuan) 家驗收。該方法為(wei) 分度工業(ye) 熱電阻，製作高精度數字溫度計、高精度溫度傳(chuan) 感器提供了一種新思路和方式，*。

工業(ye) 鉑電阻溫度計是一種被廣泛使用的測溫儀(yi) 器。長期以來，國內(nei) 外相關(guan) 標準或技術規範中普遍采用CVD方程的計算方法對其進行檢定分度。但采用CVD方程檢定分度的工業(ye) 鉑電阻溫度計準確度不高、穩定性低、不確定度較大，無法作為(wei) 傳(chuan) 遞標準使用。

為(wei) 此，多數工業(ye) 測溫領域或要求不高的實驗室隻能采用精度較高的標準鉑電阻溫度計作為(wei) 溯源傳(chuan) 遞標準，但實際工業(ye) 測溫領域由於(yu) 各種條件限製，標準鉑電阻溫度計無法使用，使得溫度量值傳(chuan) 遞和溯源在這些地方無法實現，不能開展實際的計量校準工作。

課題負責人、該研究院副研究員金誌軍(jun) 介紹說，課題主要研究采用ITS-1990溫標定義(yi) 的內(nei) 插公式，對工業(ye) 鉑熱電阻溫度計進行檢定分度的可行性，並與(yu) 普遍采用的CVD方程給出的溫度—電阻關(guan) 係計算結果相比較，進而給出二者存在的差異，探討建立精密工業(ye) 鉑電阻溫度計作為(wei) 傳(chuan) 遞標準的途徑與(yu) 方法。通過對不同型號、不同廠家製造的多支工業(ye) 鉑熱電阻在不同溫區分別開展研究和分析，給出每支溫度計的實驗結果、數據曲線及采用兩(liang) 種不同方法分度所引起的測量誤差。

實驗證明：ITS-1990溫標的內(nei) 插方法用於(yu) 工業(ye) 鉑熱電阻溫度計是可行的，與(yu) CVD方程用於(yu) 工業(ye) 鉑電阻檢定分度的計算方法相比，具有較好的準確性和一致性。此前，意大利和加拿大的國家計量技術機構進行了采用溫標內(nei) 插公式研究工業(ye) 鉑電阻分度方法的工作。

專(zhuan) 家認為(wei) ，提高工業(ye) 電阻測溫準確性和穩定性的傳(chuan) 統手段都在元件純度、封裝技術、製作流程上下功夫；該課題則從(cong) 計算方法上給出了新思路，為(wei) 精密鉑電阻和工業(ye) 鉑電阻在我國溫度量值傳(chuan) 遞和溯源體(ti) 係的完善奠定了基礎，可廣泛應用於(yu) 工業(ye) 鉑電阻的測溫領域。(來源：《中國科學報》2012年03月26 日 第4版 劉旭紅)